SEM（扫描电子显微镜）可以通过扫描样品表面，获得高分辨率的图像和信号。这些图像和信号可以用来分析样品的表面形貌和成分，原理主要基于以下两点：

1.电子束相互作用原理

SEm中发射的电子束与样品表面相互作用，这种相互作用包括以下过程：电子束激发机械振动、激发电磁振动等，并与固体原子结构相互作用。因此，当电子束与样品表面相互作用时，会发生反射、散射、吸收、透射等现象，这些现象可以用来研究样品的表面形貌和成分。

2.图像处理原理

SEM获得的信号有很多种，包括二次电子、反射电子、背散射电子、能量色散谱等等。这些信号可以通过图像处理得到高分辨率的图像，并进行形貌和成分分析。例如，二次电子显像可以显示样品表面形貌和纹理，而能量色散谱可以分析样品的成分。因此，SEM可以通过这些信号和图像处理技术来分析样品的表面形貌和成分。